膜過濾是一種高效的分離技術 ,它被廣泛地用于環保（處理放射廢水和印鈔水等） 、生物、電子等許多領域 ,且具有較好的應用前景。在長期的膜應用過程中，人們發現膜結構與膜性能存在著密切的聯系，因此 , 對膜結構的研究工作具有非常重要的意義。

用 AFM 研究膜表面主要采取接觸模式、非接觸模式和輕敲模式。在接觸模式 (Contacting mode)中，探針與樣品之間緊密接觸，作用力為斥力，其強度為 10-8—10-7 N。該模式作用力比較大，不太適宜聚合物膜的表面觀測；另外，在掃描過程中，探針與樣品之間存在較大側向力，影響測量結果。在非接觸模式 (Non-contacting mode) 中，探針與樣品之間的距離較大，通常為 5—10nm，作用力為引力 (范徳瓦耳斯力 )，強度為 10-12 N。這種模式特別適合研究軟的物質表面 （聚合物膜等） ，但在室溫下操作起來較困難， 原因是在樣品表面積聚了薄薄的一層水，干擾了探針與樣品表面間的作用，因此要特別注意保持操作環境干燥。在輕敲模式 (Tapping mode)中，探針快速地振動，樣品與探針之間保持短暫的、間歇的接觸，防止了無彈性表面的變形，大大降低了側面力的產生，這種模式比較適宜于聚合物膜和生物膜的研究。 Yoshiaki Hayashi [1] 在水中使用的交替接觸模式 (Alternative contacting mode ，AC) ，與輕敲模式類似，適合在水中觀測聚合物膜表面。此外W.Richard Bowen 等[2]研究出一種雙電層模式，這種模式很少使用 , 但對膜的研究非常有用。

在對聚合物膜表面沒有干擾的條件下，原子力顯微鏡（AFM ）不僅可用于觀察膜表面的整體形態，還可以研究膜表面孔的結構特點。因此，原子力顯微鏡（AFM）作為一種非常有效的工具，可為膜的精確形成提供嶄新的技術指導；可用來幫助選擇低污染或零污染膜材料，擴大膜材料的范圍。待觀測的分辨率進一步提高后，我們有可能得到納濾膜、氣體分離膜乃至反滲透膜表面的清晰圖象以及它們的孔徑，這也將有助于我們解答納濾膜的傳輸機制和截留機理，以及關于氣體怎樣傳輸這些有爭論性的理論問題。

以下是我司客戶薄膜測樣：